點云分析中的最高性能

Metrolog X4旨在處理和分析最大體量和最密集的點云。

Metrolog X4 集成了高效光學測量功能所需的最新技術，可確保無論使用哪種設備都能獲得最佳的結果。

使用CAD（彩圖分布）進行云比較。

元素提取和自動GD＆T。

直觀的間隙和面差。

測量并補償材料厚度。

根據表面積估算零件質量（面積計算）。

增強的界面可為最終用戶帶來流暢的體驗

可以根據操作員的習慣、設備類型和測量方法完全自定義用戶界面。

全新的手動采點助手。

采集過程中自動查看方向。

多個信息窗口（位置和結果）。

隨時可切換的19種語言系統(tǒng)。

讓復雜的GD&T分析簡單化

Metrolog X4 具有新的幾何和尺寸公差處理引擎，可在既定時間內處理最復雜的情況。

簡化了幾何公差定義。

“專家”級系統(tǒng)，確保了正確的評估方法和結果。

全面支持符合給定標準的公差評估。

支持ANSI和ISO標準。

檢測結果得到PTB和NIST組織的認證和認可。